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浅析影响在线涂层测厚仪测量的若干因素
时间:2022-06-10 点击次数:11

  在线涂层测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。虽然几种测厚仪在校准中测量点和标准材料的选择上有很多不同,但在操作中都有一些相同的需要注意的地方,如每种测厚仪对基体的表面曲率和厚度都有一个下限的规定,在实际校准中应选择尺寸合理的基体进行操作;测量中测头的取向和压力也会对结果有影响,要保持测头与基体的垂直、压力恒定并尽可能小;另外,校准覆层测厚仪时还要注意外界磁场和基体剩磁的干扰,校准超声波测厚仪时要注意温度变化和耦合剂粘度的影响。

  影响在线涂层测厚仪测量的若干因素如下:
  1.基体金属磁性变化,为了避免热处理、冷加工等因素的影响,应使用与镀件金属具有相同性质的铁基片上对仪器进行校对。
  2.测量基体金属厚度,基体金属有一定临界厚度,超过厚度测量就不受基体厚度的影响。
  3.边缘效应,在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不准确的,校对试片尽量在试片中间以减少误差。
  4.测量件曲率,试件的曲率对测量有影响,这种影响是随着曲率半径减小明显增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。
  5.被测物体表面粗糙度,基体金属和表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差。每次测量时,在不同位置上增加测量的次数,克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙还必须在未涂覆的粗糙相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用没有腐蚀性的溶液除去在基体金属上的覆盖层,再校对仪器零点。
  6.磁场,被测物体周围磁场会干扰磁性测量,影响涂层测厚仪精度。
  7.附着物质,本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质,以保证探头与覆盖层表面直接接触。

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